接近開關技術發(fā)展飛快，接近開關的新技術不斷涌現(xiàn)，使新型接近開關更加小型化、高頻化、高效化，滿足了不同電子設備的需要。決定接近開關體積的主要因素是電感、變壓器等磁性器件和平滑電容器。
接近開關超小型化技術的主要措施有:
一改善元器件本身的性能。目前，供接近開關使用的元器件獲得長足的發(fā)展，一大批新器件、新材料正被廣泛采用。
二應用組件化技術。所謂組件化技術，就是預先將電源中所需使用的DC-DC變換器、用于諧波電流抑制的功率因數(shù)改善電路、整流平滑電路以及靜噪濾波電路等部分分別制成微型或薄型組件，再根據(jù)用戶需要制作半成品電源，或根據(jù)用戶要求，和交流/直流前端電路配合，構成適應大功率輸出或多路輸出等用途的系統(tǒng)電源。隨著表面貼裝元器件(SMD)和表面貼裝技術(SMT)的進一步發(fā)展，組件的裝連密度會更加提高，體積會進一步縮小，電源也會隨之更加小型化。
三采用軟接近開關方式。減小元器件體積另一個重要途徑就是提高接近開關的工作頻率。但 PWM變換器接近開關頻率提高時，不但有磁損耗，而且電路的損耗也會增大。PWM變換器接近開關損失較大的原因主要是由于接近開關器件的通斷都是強制性的。理想情況下，接近開關器件的電壓、電流波形都是方波。但是，由于接近開關器件又是非理想的，即開和關不能瞬時完成，都需要一定的時間，接近開關器件及與之相連接的元件都可能有些寄生參數(shù)而使接近開關器件的電壓、電流波形不是方波。因此，在接近開關過程中，產生了接近開關器件的電壓、電流波形交登現(xiàn)象，從而產生了接近開關損失。顯然，隨著頻率的增加，接近開關損失在全部損失中所占比例也增加。當頻率高到某一數(shù)值時，變換器效率會降低到不能允許的程度。采用軟接近開關方式可以有效地降低伴隨著高頻化帶來的損耗。軟接近開關方式包括零電流接近開關方式、零電壓接近開關方式及兩者兼用的方式。作為實現(xiàn)這種軟接近開關方式的手段，有諧振型接近開關技術和部分諧振型接近開關技術，后者易于實現(xiàn)。 |
當前位置：
